超聲波檢測儀檢測缺陷尺寸的評定

在實際檢測中，由于自然缺陷形狀、性質(zhì)等是多種多樣的，要通過超聲波信號確定缺陷的真實尺寸還是比較困難的。目前只要是利用來自缺陷的反射波高、沿工件表面測出的缺陷延伸范圍以及存在缺陷時底面回波的變化等信息，對缺陷尺寸小于聲束截面時，可用缺陷回波幅度當(dāng)量直接表示缺陷的大小；當(dāng)缺陷大于聲束截面時，幅度當(dāng)量不能表示出缺陷的尺寸，則需要缺陷指示長度測定方法確定缺陷的延伸長度。

回波高度法：

根據(jù)回波高度給缺陷定量的方法稱為回波高度法。回波高度法有缺陷回波高度法和底面回波高度法兩種。常把回波高度法稱為波高法。

缺陷回波高度法：在確定的檢測條件下，缺陷的尺寸越大，反射聲壓越大。對于垂直線性好的儀器，聲壓與回波高度成正比，因此，缺陷的大小可以用缺陷回波高度來表示。

缺陷回波的高度是一種表示方法是，在調(diào)定的靈敏度下，缺陷回波峰值相對熒光屏垂直滿刻度的百分比，時基線位于垂直零位時，可由垂直刻度線直接讀出。另一種表示方法是用回波峰值下降或上升基準(zhǔn)高度所需衰減或增益的分貝數(shù)來表示缺陷回波的高度，在調(diào)定的靈敏度下，回波高于基準(zhǔn)高度記為正分貝，回波低于基準(zhǔn)高度記為負(fù)分貝。

缺陷回波高度法在自動探傷設(shè)備或半自動化探傷設(shè)備中檢測十分方便，作為判斷工件十分合格的依據(jù)，通過閘門高度的設(shè)定，可以進行自動報警與記錄。

底面回波高度法：當(dāng)工件上、下面與入射聲束垂直且缺陷反射面小于入射聲束截面時，可用底面回波高度法。

當(dāng)工件中有缺陷時，由于部分聲能被缺陷反射，使傳到底面的聲能減小，從而底面回波高度比無缺陷時降低。底面回波高度降低的多少與缺陷的大小有關(guān)，缺陷越大，底面回波高度下降得越多；反之，缺陷越小，底面回波高度下降的月少。因此，可用底面回波高度來表示缺陷大小。

底面回波高度法的優(yōu)點是不需要對比試塊和復(fù)雜的計算，而且可利用缺陷的陰影對缺陷大小進行評介，有助于檢測因缺陷形狀、反射率等原因使反射信號較弱的大缺陷。底波高度的降低主要與缺陷的大小有關(guān)。